適切なケーブル接続およびシールド型プローブの使用により
測定機器の仕様性能を最大限に発揮することができます。


V-I 特性 実測例（光半導体）

CD用GaAs系半導体レ−ザチップのI-V特性（2社 実測値） 信頼性に対する要求が極めて厳しかった国産の半導体レーザは、理想的な I-Vカーブを与えるため、測定系の正否検証基準に用いることができます。
初期不良を起こした光通信用半導体素子（海外製） 良品との順逆I-V特性比較 微小電流／電圧領域の測定によって被検素子に関わる知見が得られます。 基準校正用素子に拠る結果は測定系におけるノイズの源を明らかにします。
測定系の接続例